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核心特性:
支持1.8V/2.5V IO接口;核心器件工作电压0.9V;提供超高、高、中、低、超低五种阈值电压(Vt)选项。
工艺优势:
采用HKMG后栅工艺优化开关速度,制程成熟度高,良率稳定。
典型应用:
移动应用处理器、高性能计算芯片、5G基带芯片。
28nm性能增强型工艺
平台基础核心模块,专注于智能手机SoC、高端微控制器(MCU)及网络通信芯片需求。
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核心特性:
超低功耗 (ULP):通过阈值电压的精细调控及电路架构优化,显著降低动态功耗。
超低漏电 (ULL):通过工艺器件优化,进一步抑制静态漏电流,实现PPA(性能、功耗、面积)综合性能的全面提升。
工艺优势:
在保持运算能力的前提下,大幅延长电池续航时间。
典型应用:
智能穿戴设备、物联网传感器节点、蓝牙/Wi-Fi低功耗通信芯片、医疗便携式监测设备、无源物联网芯片。
面向长续航设备打造的特色工艺组合。
28nm超低功耗和28nm超低漏电工艺
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核心特性:
支持28V高压、8V中压及0.9V低压器件。
工艺优势:
高压/中压器件与标准CMOS工艺高度兼容,完美适配28nm逻辑平台IP。
典型应用:
智能手机及穿戴设备的OLED显示驱动芯片。
28nm高压工艺
面向OLED显示驱动市场打造的特色分支。相比40nm高压工艺,具备更低的功耗、更小的SRAM单元尺寸及更大的图像数据存储容量,满足高分辨率与低功耗的双重需求。
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核心特性:
Logic器件兼容28nm Logic平台;Flash采用Split-Gate成熟存储单元架构。
工艺优势:
数据保持时间、擦写寿命、读取速度及功耗均满足严苛的应用场景需求;存储模块与标准CMOS工艺兼容性强,支持28nm逻辑平台IP。
典型应用:
工业控制芯片、智能卡芯片、物联网设备固件存储、消费电子参数存储、身份识别芯片
28nm嵌入式存储工艺
专注于非易失性存储集成,适配各类需要片上存储的芯片设计。相比40nm节点,存储单元功耗更低、面积更小,满足市场对功耗与容量不断提升的要求。
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核心特性:
与Logic平台兼容性极强,仅需增加少量中后段光罩。
工艺优势:
具备读写速度快、低延迟及超低功耗特性。
典型应用:
工业控制芯片、微控制器(MCU)、物联网(IoT)、智能卡与安全芯片、存内计算应用
28nm特色存储工艺
面向嵌入式非易失性存储及存内计算(In-Memory Computing)需求, 包括阻变随机存取存储器(RRAM)和相变随机存取存储器(PCRAM) 。相比40nm平台,存储单元在功耗、面积及容量上均有显著优化。
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核心特性:
深阱NFET噪声隔离、高Q值电感及高密度金属电容。
工艺优势:
与逻辑工艺无缝兼容,简化射频与数字电路的集成设计
典型应用:
射频及无线互联芯片,广泛应用于消费电子、通信、计算机及物联网领域。
28nm射频工艺
提供与逻辑工艺兼容的射频解决方案,配套完整的RFSPICE模型和PDK工具包。
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核心特性:
采用低噪音器件及高稳定性电容。
工艺优势:
基于成熟的28nm逻辑制程技术,工艺成熟度高,良率优异。
典型应用:
安防监控、智能驾驶辅助系统(ADAS)、工业机器视觉及高端消费电子。
28nmISP工艺
面向高性能、低功耗视觉应用。。
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28nm车规
专为汽车电子应用设计,确保极高的可靠性与安全性。
核心特性:
严格依据IATF 16949质量管理体系标准及AEC-Q100测试要求进行全流程质量管控与可靠性验证。
典型应用:
各类车规级芯片制造。
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