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核心特性:
支持 1.8V/2.5V/3.3V 多档位 IO 接口;核心器件工作电压 1.1V;提供高、中、低三种阈值电压(Vt)。
工艺优势:
光罩层数较业界水平精简,制程成熟稳定,有效降低生产成本。
典型应用:
智能手机基带芯片、平板与机顶盒主控、无线通信芯片、工业控制 MCU、消费电子 SoC 及网络接口芯片等。
40nm低漏电工艺
平台基础核心模块,专为高性能、高密度数字芯片打造,在保障运行速度的同时优化制造成本,是中高端数字芯片的主流选择。
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核心特性:
核心工作电压低至 0.9V;提供五种阈值电压选项;器件静态漏电流较标准 40nm Logic 工艺降低 60% 以上;支持超低漏电(ULL)器件与低电压 SRAM 集成。
工艺优势:
在维持基础运算能力的前提下,大幅延长电池续航;支持完整低功耗系统单芯片(SoC)集成;制程成熟,良率稳定,性价比突出。
典型应用:
智能穿戴设备、物联网传感器节点、蓝牙/Wi-Fi 低功耗通信芯片、医疗便携式监测设备及无源物联网芯片等。
面向电池供电及长续航设备打造的特色工艺,以超低漏电和低动态功耗为核心,满足物联网、可穿戴设备等超长待机需求。
40nm超低功耗工艺
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核心特性:
高压 32V,中压 8V/6V,低压 1.1V。
工艺优势:
高压/中压器件与标准 CMOS 工艺完全兼容,无缝对接 40nm 逻辑平台 IP;提供极具竞争力的功耗表现和 SRAM 单元尺寸,满足客户对显示性能与功耗的双重严苛要求。
典型应用:
消费电子及智能手机的 LCD/OLED 显示驱动 IC。
40nm高压工艺
专为 LCD/OLED 显示驱动市场打造的特色分支。
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核心特性:
Logic 器件兼容 40nm Logic 平台;Flash 采用成熟的 Split-Gate 存储单元架构。
工艺优势:
数据保持时间、擦写寿命、读取速度及功耗全面适配各类应用场景;存储模块与标准 CMOS 工艺高度兼容,无缝集成 40nm 逻辑平台 IP。
典型应用:
工业控制芯片、智能卡芯片、物联网设备固件存储、消费电子参数存储及身份识别芯片等。
40nm嵌入式存储工艺
专注于非易失性存储集成,满足芯片代码存储与数据存储的高可靠性及耐久性需求。
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核心特性:
与 Logic 平台兼容性极强,仅需增加少量中后段光罩。 工艺优势:读写速度快、低延迟、超低功耗。
工艺优势:
读写速度快、低延迟、超低功耗。
典型应用:
工业控制芯片、微控制器(MCU)、物联网(IoT)、智能卡与安全芯片、存内计算(In-Memory Computing)。
40nm特色存储工艺
涵盖阻变随机存取存储器(RRAM)和相变随机存取存储器(PCRAM),通过新材料与器件架构,为嵌入式非易失性存储及存内计算提供高速、低功耗、高密度解决方案。
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核心特性:
深阱NFET 噪声隔离、高阻多晶硅电阻、高 Q 值电感、高密度金属电容。
工艺优势:
与逻辑工艺无缝兼容,简化设计流程。
典型应用:
消费电子、通信设备、计算机及物联网终端。
40nm 射频工艺
提供与逻辑工艺兼容的射频技术解决方案,配套完整的 RF SPICE 模型和 PDK 工具包。
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核心特性:
低噪声器件、高稳定性电容。
工艺优势:
基于成熟的 40nm 逻辑制程技术,工艺稳定性高。
典型应用:
安防监控、智能驾驶辅助系统(ADAS)、工业机器视觉及高端消费电子。。
40nm ISP工艺
专为高性能、低功耗视觉应用打造的先进半导体解决方案。
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40nm车规级工艺
严格遵循汽车电子质量标准的高可靠性工艺平台。
核心特性:
全制程依据 IATF 16949 质量管理体系标准执行,并按照AEC-Q100 测试要求进行严格验证。
典型应用:
各类车规级控制芯片及传感器。
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